Powrót do listy komunikatów INFORMACJA ARCHIWALNA
Ostatnia aktualizacja: 2023-05-19
hin Film Metrology Seminar. 13-14 czerwca 2023, ACMiN AGH, Kraków

Elipsometra, badanie cienkich warstw.

Jeśli w zakresie Twoich zainteresowań leży badanie właściwości cienkich warstw metodami optycznymi, w tym przy wykorzystaniu elipsometrii, działasz w obszarze technologii fotonicznych, organicznej elektroniki lub fotowoltaiki, na pewno warto zwrócić uwagę na to wydarzenie.

Thin Film Metrology Seminar.
13-14 czerwca 2023, ACMiN AGH, Kraków.

Więcej informacji na stronie:
https://lnkd.in/eugzTmfD

Aplikacje można składać przez formularz online:
https://lnkd.in/e8MFZBKf

Będzie możliwe wykonanie pomiarów elipsometrycznych własnych, zgłoszonych w formularzu próbek.
Liczba miejsc jest ograniczona.

Kategoria komunikatu:

Zaproszenia

Dodał:
LABSOFT Sp. z o.o.
urządzenia z xtech

Interesują Cię ciekawostki i informacje o wydarzeniach w branży?
Podaj swój adres e-mail a wyślemy Ci bezpłatny biuletyn.

Więcej o newsletterze »

Czytaj także

Wszystkie artykuły

Zobacz produkty

Wszystkie produkty