TheiaVu Serie, AT - LINE
- Producent:
- KPM Analytics
Optyczne Systemy Inspekcyjne At-Line to kompaktowe systemy kontrolne typu „plug and play", które generują ponad 100 różnych pomiarów dla każdego obiektu umieszczonego na zintegrowanym przenośniku taśmowym.
Urządzenie może całkowicie zautomatyzować procedury kontroli jakości i wyeliminować pomiary ręczne oraz może być zainstalowany bezpośrednio na podłodze zakładu lub w laboratorium.
Opis:
Lepsze pomiary, więcej pomiarów
Dokładne i niezawodne pomiary zapewniania jakości (QA) mają kluczowe znaczenie dla każdej operacji produkcyjnej i są kluczem do zapewnienia jakości produktu, zgodności ze specyfikacją i optymalizacji procesu. Systemy inspekcji Sightline są zaprojektowane w celu zapewnienia tych krytycznych pomiarów szybciej i z lepszą powtarzalnością niż pomiary ręczne, zapewniając jednocześnie możliwość pomiaru i kwantyfikacji atrybutów produktu, które są trudne lub niemożliwe do obliczenia/zmierzenia ręcznie.
Pełna wszechstronność
... to najbardziej wszechstronne ze wszystkich systemów inspekcji: zapewniają możliwość pomiaru dowolnego produktu, w dowolnej orientacji, oraz natychmiastowe generowanie, wyświetlanie i przechowywanie wszystkich pożądanych atrybutów produktu. Ponadto systemy te mogą łączyć się bezpośrednio z różnymi urządzeniami zewnętrznymi, takimi jak wagi, w celu automatycznej integracji tych danych z systemem.
Prostsze i szybsze
Łatwość użytkowania eliminuje również potrzebę skomplikowanych procedur pomiarowych i radykalnie zmniejsza obciążenie pracą i umiejętności wymagane do generowania danych dotyczących kontroli jakości. Zaplanowane kontrole kontroli jakości można teraz wykonać w ułamku normalnie wymaganego czasu, a wszystkie dane są automatycznie rejestrowane i przechowywane w sieci
Skontaktuj się z dystrybutorem
Dystrybutor
KPM Analytics Sp. z o.o.
- Adres: ul. Modlińska 335E, 03-151 Warszawa
-
Nr telefonu: 22 673 95 26
- E-mail: sales@kpmanalytics.com
- WWW: www.kpmanalytics.com/pl
Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl
