Analizator grubości powłok FT230

FT230 to spektrometr ED-XRF dedykowany do pomiaru grubości powłok metalicznych, charakteryzujący się wysoką przepustowością i łatwością obsługi. Urządzenie jest nowoczesnym, wydajnym i ekonomicznym spektrometrem fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF), stworzonym z myślą głównie o pomiarach grubości powłok metalicznych. Pomiary grubości można wykonywać z wykorzystaniem parametrów fundamentalnych (FP), na podstawie krzywej kalibracyjnej (CAL) lub metody mieszanej (FP + CAL). Nie ma jednak przeszkód by urządzenie stosować też do pomiarów stężenia metali w cieczach czy analizy jakościowej. Dużymi zaletami urządzenia jest łatwa obsługa, szybki pomiar oraz wysoka wytrzymałość. Z tego względu FT230 często stosowany jest do kontroli jakości w produkcji, gdzie istotna jest szybka i pewna informacja zwrotna.

Spektrometr FT230 wyposażony został w ekonomiczny detektor proporcjonalny, zapewniający szybką odpowiedź pomiarową przy racjonalnej rozdzielczości. Warto zaznaczyć, że urządzenie wyposażone zostało w dużą komorę pomiarową pozwalającą na pomiar próbek o większych gabarytach. W celu ułatwienia procedury pomiarowej w urządzenie wbudowana została kamera CCD umożliwiająca podgląd analizowanego obiektu, a system automatycznie przełącza filtry i kolimatory zgodnie z ustandaryzowanym protokołem pomiarowym. W najczęściej wybieranej konfiguracji urządzenie wyposażone jest w sterowany joystickiem ruchomy stolik pomiarowy, co pozwala na szybkie i precyzyjne ustawienie próbki we wiązce pomiarowej. Aby jeszcze dodatkowo ułatwić i przyspieszyć pomiary urządzenie można doposażyć w unikalny czujnik odległości, który umożliwia automatyczne zbliżenie głowicy pomiarowej do próbki oraz wyostrzenie obrazu. Urządzenie jest w stanie mierzyć do 5 powłok metalicznych na jednej próbce. Mierzone warstwy mogą składać się z nawet z 10 różnych pierwiastków. Warto zaznaczyć, że urządzenia serii FT produkowane są od 1978 roku.