Precyzyjny pomiar właściwości nanorurek

Nanorurki węglowe są typowane jako materiały mogące zastąpić krzem w elektronice. Stąd konieczność opracowania metod precyzyjnego pomiaru ich właściwości elektrycznych i optycznych. Jedną z takich metod opracowali naukowcy z niemieckiego Ludwig-Maximilians-Universität München (LMU).

Ścianki nanoruke węglowych mają grubość ok. 1 nanometra (nm). W celu zbadania ich właściwości zespół naukowców pod przewodnictwem profesora Achima Hartschuhanda opracował „optyczną antenę" - miniaturową igłę ze złota o ostrym końcu, która jest poddawana działaniu lasera. Zachowanie tej igły w promieniu lasera w pobliżu nanorurek pozwala na określanie właściwości optycznych i elektrycznych nanorurek. Konwencjonalne metody oparte są na mikroskopii konfokalnej i nie osiągają rozdzielczości przestrzennej porównywalnej z opisywaną metodą.

Użycie „optycznej anteny" pozwala na wzmocnienie sygnału emitowanego przez pojedyncze nanorurki i na tej bazie stworzenie z dużą rozdzielczością „mapy" nanorurek. Podczas testów otrzymano rozdzielczość pomiaru fotoprądów na poziomie 30 nm. Nowa metoda określana jest jako „tip-amplified optical near-field microscopy" i może znaleźć zastosowanie w badaniach nie tylko nanorurek ale również półprzewodnikowych nanoprzewodów i być może ogniw słonecznych i materiałów służących do ich budowy.

(pj)