Reklama: Chcesz umieścić tutaj reklamę? Zapraszamy do kontaktu »
Powrót do listy szkoleń INFORMACJA ARCHIWALNA
Ostatnia aktualizacja: 2024-04-02


Powrót do kalendarium
Wzorcowanie i kwalifikacja urządzeń laboratoryjnych zgodnie z wymaganiami GMP

E-seminaria na życzenie

Wzorcowanie i kwalifikacja urządzeń laboratoryjnych zgodnie z wymaganiami GMP
Koszt szkolenia:
Darmowe
Czas trwania:
60 min
Najbliższy termin:
Nie został okreslony

Wzorcowanie, kwalifikacja i odpowiednie rutynowe testowanie mają kluczowe znaczenie dla zapewnienia dokładnych wyników i zgodności z przepisami branżowymi.

Czas trwania: 60 minut

Język: English

Główne cele seminarium:

  • poznaj sposoby skutecznego wzorcowania, w tym określania niepewności pomiaru, zgodnie z wymaganiami GMP i USP;
  • zrozum role i obowiązki różnych podmiotów w odniesieniu do procesów kwalifikacji (DQ/IQ/OQ/PQ);
  • zrozum wpływ rutynowego testowania w oparciu o analizę ryzyka na jakość, sprawność i optymalizację kosztów w procesach ważenia laboratoryjnego.

Grupa docelowa seminarium:

  • personel zajmujący się kwalifikacją, testowaniem i wzorcowaniem urządzeń w laboratoriach podlegających wymogom GMP;
  • personel odpowiedzialny za zapewnienie jakości;
  • kierownicy ds. zgodności i uregulowań prawnych;
  • konsultanci ds. GMP i CMC, audytorzy GLP i konsultanci ds. jakości;
  • kierownicy laboratoriów, osoby nadzorujące laboratoria i kierownicy produkcji;
  • audytorzy (wewnętrzni i zewnętrzni) odpowiedzialni za ocenę zgodności urządzeń laboratoryjnych.

Odwiedź stronę METTLER TOLEDO i zarejestruj się na seminarium w dogodnym dla Ciebie terminie!

Najbliższe terminy tego szkolenia

Obecnie nie ma wyznaczonych terminów tego wydarzenia. Jesteś zainteresowany tym tematem? Skontaktuj się z firmą

Skontaktuj się z dystrybutorem

Organizator

Mettler-Toledo Sp. z o. o.

Adres: Poleczki 21, 02-822 Warszawa

Nr telefonu: 22 691 10 00 Skopiuj

E-mail: polska@mt.com Skopiuj
WWW: www.mt.com

Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl

Wyślij wiadomość

Dodaj plik...