Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego TIC3X

Leica EM TIC 3X to system ścieniania wiązką jonową, wykorzystujący trzy działa jonowe, dostosowany do potrzeb nowych aplikacji w mikroskopii świetlnej i mikroskopii SEM. Pozwala użytkownikowi na przygotowanie wielu rodzajów próbek oraz dostosowanie w szybki sposób urządzenia do zmieniających się potrzeb, m.in. dzięki zastosowaniu stolika rotacyjnego lub stolika z chłodzeniem, dedykowanego dla próbek termicznie wrażliwych.

System Leica EM TIC3X zapewnia największy obszar przekroju, aby zaoferować najwyższą wydajność analiz. Cechą unikalną jest najwyższa prędkość i największy jednolity obszar dla techniki płaskiego polerowania (polerowanie wiązką jonową). Dodatkowo urządzenie zapewnią szybki przepływ pracy wykorzystując synergię z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje zminimalizowany.

Specyfikacja

• Energia jonów: 1 keV do 10 keV
• Prąd źródła: 0,5 do 4,5 mA / 0,1 mA (na źródło jonów)
• Gęstość prądu 10 mA/cm² (na źródło jonów)
• Średnica wiązki jonów: 0,8 mm (przy 10 keV), 2,5 mm (przy 2 keV)
• Żywotność katody > 350 h dla 8 kV, 3 mA