Spektrometr XRF X-PMA

Spektrometr XRF X-PMA to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej EDXRF Izraelskiej firmy Xenemetrix przeznaczony do analiz biżuterii i stopów metali szlachetnych z dużą precyzją. Wyniki spełniają normę GB/T 18043-2000 dotyczącą analizy zawartości metali szlachetnych w wyrobach jubilerskich metodą XRF.

- Lampa rentgenowska z anodą Mo
- Analiza jakościowa i ilościowa zawartości poszczególnych pierwiastków w stopach złota, platyny, srebra, rodu i innych metali szlachetnych i bazowych obecnych w biżuterii, monetach i innych materiałach
- Możliwość jednoczesnego oznaczania wszystkich składników stopu
- Wynik uzyskiwany zaledwie w ciągu kilkudziesięciu sekund
- Posiada wzmocnioną obudowę, dzięki czemu może być wykorzystywany w trudnych warunkach pracy
- Detektor Si-PIN o rozdzielczości widmowej 155±10 eV zapewniający dobry rozdział widm analizowanych pierwiastków lub detektor SDD o rozdzielczości 123±10 eV
- Jednopozycyjna komora pomiarowa o wymiarach 220x220x50 mm
- Kalibracje oparte o wzorce + analiza bezwzorcowa SLFP
- Analizator złota, srebra, platyny i innych stopów metali szlachetnych

• Detektor: Si-PIN
• Rozdzielczość detektora: 155±10 eV lub opcja 123 ± 10eV dla SDD
• Mierzone pierwiastki: od Na (sodu) do Fm (fermu), stopy metali szlachetnych
• Zakres pomiarowy: ppm - 100%
• Moc lampy: 50kV, 50W
• Wymiary komory pomiarowej: 220 x 220 x 50 mm

Specyfikacja techniczna spektrometru: X-PMA

Wiecej informacji o produktach dostępnych w naszej ofercie znajduje się na naszej stronie: Envisense