Analizator grubości powłok XRF
Spektrometr THICK 800A to analizator XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. Spektrometr XRF THICK 800A może być wykorzystywany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i metalowym. Możliwe są analizy zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych (także powłok wielowarstwowych), a także do pomiaru składu kąpieli galwanicznych. Analizator XRF THICK800A oferuje pomiar do 24 pierwiastków lub do 5 warstw powłok. Dostarczany jest razem z oprogramowaniem XRF, zawierającym elementy metody parametrów fundamentalnych (FP).
Analizator XRF THICK 800A został wyposażony w górne źródło światła oraz kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego. Automatyczna ruchoma platforma 2D, podwójny lokalizator laserowy oraz kamera o wysokiej rozdzielczości, gwarantują precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego.
Pełna specyfikacja techniczna spektrometru THICK800A.
Skontaktuj się z dystrybutorem
Dystrybutor
EnviSense Barbara Mirosław
- Adres: B. Głowackiego 35, 20-060 Lublin
-
Nr telefonu: (81) 444 67 16
Nr telefonu: 534 170 477
- E-mail: info@envisense.eu
- WWW: www.envisense.eu
Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl