Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest przede wszystkim do analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto. Wbudowana kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma głównie znaczenie w pomiarach przedmiotów o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają pomiary zarówno surowców jak i wyrobów gotowych.

• Detektor: Si-PIN
• Rozdzielczość detektora: 155 ± 5eV
• Mierzone pierwiastki: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Sn, W
• Zakres pomiarowy: 1 ppm - 99,99%
• Moc lampy: 50W
• Wymiary komory pomiarowej: 310x300x100mm

Specyfikacja techniczna spektrometru: EDX3000

Wiecej informacji o produktach dostępnych w naszej ofercie znajduje się na naszej stronie: Envisense