Nowy moduł NI SMU oferuje niezrównaną szybkość, liczbę kanałów oraz elastyczność

Moduł NI PXIe-4139 zapewnia 100 razy większą częstotliwość próbkowania przy zwiększonej, w porównaniu do tradycyjnych przyrządów o podobnych rozmiarach, liczbie dostępnych kanałów.

Firma National Instruments zaprezentowała programowalny zasilacz SMU (Source Measurement Unit) NI PXIe-4139 – nową, wysoce wydajną pozycję w portfolio SMU firmy National Instruments. Oferowane urządzenie może ograniczyć całkowity koszt testów oraz skrócić czas wprowadzenia badanego produktu na rynek dzięki przyspieszeniu procesu testowania. Znajduje ono zastosowanie w wielu gałęziach przemysłu, począwszy od urządzeń półprzewodnikowych, po branżę automotive oraz elektronikę użytkową.

„Wykorzystując NI PXIe-4139 inżynierowie oraz naukowcy uzyskują szerszy wachlarz możliwości prądowo - napięciowych, łącznie ze zwiększonym zakresem generacji sygnału impulsowego (do 500W) oraz czułością sięgającą 100 fA. „Zwiększa to gamę urządzeń możliwych do przetestowania za pomocą jednego narzędzia", powiedział Luke Schreier, starszy menadżer działu systemów testujących w National Instruments. „Kompaktowy rozmiar NI PXIe-4139 jest równie istotny. Czynnik ten może znacznie zredukować rozmiar całego systemu w porównaniu do tradycyjnych urządzeń SMU."

W celu optymalizacji odpowiedzi urządzenia na zmiany obciążenia, NI PXIe-4139 wykorzystuje technologię NI SourceAdapt umożliwiającą modyfikację pętli sterującej SMU. Opcja ta pomaga chronić urządzenie podlegające testom (DUT – Device Under Test) oraz zwiększa stabilność systemu. Dodatkowo, NI PXIe-4139 jest w stanie wykonać pomiary z częstotliwością 1,8 MS/S, co jest stukrotnie lepszym wynikiem niż w przypadku tradycyjnych SMU. Lepsze parametry umożliwiają redukcję czasu niezbędnego do wykonania serii testów oraz rejestrację sygnałów dynamicznych bez konieczności stosowania zewnętrznego oscyloskopu.

„Zdefiniowanie nowego podejścia do narzędzi testujących jest niezbędne, aby nadążyć za szybko rosnącym poziomem skomplikowania nowoczesnej elektroniki", stwierdził Schreirer. „Technologia SourceAdapt, w połączeniu z nieodłącznymi zaletami modułowej platformy PXI oraz środowiska projektowania systemów LabVIEW, daje inżynierom znaczącą przewagę konkurencyjną w zakresie redukcji czasu testów oraz ochrony urządzeń podlegających badaniom.

Kluczowe parametry:
• czułość pomiarów prądu rzędu 100 fA – precyzyjna charakterystyka urządzeń półprzewodnikowych o wysokiej wydajności;
• częstotliwość próbkowania na poziomie 1,8 MS/s – rejestracja zmiennych charakterystyk urządzenia bez potrzeby wykorzystania dodatkowych narzędzi;
• nawet 17 kanałów SMU w obudowie 19' – minimalizacja rozmiarów systemów testujących o wysokiej liczbie kanałów;
• technologia SourceAdapt – redukcja czasu odpowiedzi urządzenia zapewniająca skrócenie całkowitego czasu testu oraz zabezpieczająca urządzenie testowane przed przeregulowaniem i oscylacjami, nawet przy obciążeniu o wysokiej induktancji i pojemności.

Więcej informacji na temat NI SMU można odnaleźć na stronie www.ni.com/smu.