Defektoskop ultradźwiękowy XEO, PA TFM TFMi TOFD

Nowy Defektoskop XEO SONATEST => PAUT TFM TOFD – z wiązką 3D, skanowanie liniowe i sektorowe – UMÓW SIĘ NA PREZENTACJĘ

Defektoskop XEO i Phased Array jest niezwykle proste w obsłudze, oferując intuicyjny proces konfiguracji, który pomaga dobrać parametry nawet w najbardziej złożonych inspekcji.
Interfejs XEO to rozwiązanie dopasowane do potrzeb inspektorów NDT. Prosta intuicyjna nawigacja sprawia, że wymagane jest jedynie minimalne przeszkolenie operatora. Koncepcja technologii ultradźwiękowej z wieloelementową głowicą (phased array) została płynnie zintegrowana z systemem, aby usprawnić wykonywanie powtarzalnych zadań.

- Jednocześnie: skan do 10 PAUT - skan TFM/TFMI do 4 TOFD
- Gotowy na integrację AI i automatyzację systemów
- 1920 x 1080 ekran dotykowy wysokiej rozdzielczości
- Zdalne API z pełnym dostępem do parametrów i strumieniem danych
- .ONDE otwarty format danych

Defektoskop XEO umożliwia rzeczywiste odwzorowanie geometrii poprzez skanowanie sektorowe i liniowe. Pozwala to na kompleksowy przegląd danych. Dzięki śledzeniu wiązek 3D, możesz zweryfikować swoją konfigurację, aby zapewnić maksymalny zasięg inspekcji.

W najbliższym czasie planujemy prezentacje wyjazdowe defektoskopu XEO. Jeśli chciałbyś abyśmy przyjechali do Ciebie skontaktuj się z nami.
kontakt@pcb.com.pl