♥ Olympus Cleanliness Inspector System CIX100

System OLYMPUS CIX100 jest wysokowydajnym narzędziem złożonym z oprogramowania i systemu mikroskopowego. Jest przeznaczony do akwizycji i przetwarzania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych o rozmiarach od 2.5 μm do 42 mm. Możliwa jest równiez analiza większych zanieczyszczeń poprzez składanie fragmentów obrazów. Obraz zeskanowanego filtru jest automatycznie zapisywany. Możliwe jest ponowne przetworzenie obrazu i zliczenie zanieczyszczeń.

Opatentowany system oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego, dwukrotnie redukując czas potrzebny na analizę próbki. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane oraz wyświetlane na żywym obrazie. Klasyfikacja odbywa sie wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym (min. ISO 16232: VDA-19 oraz ISO 4406, ISO 4407, NF E 48-65, SS 2687). Możliwe jest również tworzenie własnych norm.

Mikroskop

automatyczna, zmotoryzowana oś Z: 25 mm
stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu: 130 x 79 mm, maks. prędkość 240 mm/s, powtarzalność < 1 µm, rozdzielczość: 0.01 µm, kontrolowany przez 3-osiowy joystick
szybkość zmiany ogniskowej: 200 μm/s
autofokus programowy
możliwość wprowadzenie mapy fokusu wielopunktowego
wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
kamera kolorowa CMOS USB 3.0, rozmiar piksela 2,2 x 2,2 μm
6-pozycyjna zmotoryzowana końcówka obiektywu z zamontowanymi fabrycznie 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
automatyczne pozycjonowanie obiektywów podczas analizy próbki

Oprogramowanie

baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
Identyfikacja rodziny cząstek: cząstki mogą być klasyfikowane według rodzin (włókna, odblaskowe, włókna odblaskowe, pozostałe)
raportowanie do MS2016, z kastomizowanymi szablonami
dla ułatwienia nawigacji wykryte cząstki są wyświetlane na kaflach
cały filtr jest zachowywany i możliwe jest jego ponowne przetwarzanie w różnych warunkach
możliwa edycja cząstek w ramach procesu korygowania wyników:
- usuwanie, scalanie, dodawanie cząstek
- zmiana typu cząstek
możliwość analizowanie cząstek o rozmiarach od 2.5 μm do 42 mm na żywo, w czasie skanowania, i automatycznia rekonstrukcja obrazów dużych cząstek.

Zobacz film: https://www.youtube.com/watch?v=QM6qyQGFm0A