Powrót do listy firm Ostatnia aktualizacja: 2026-01-08
PD Instrments Sp. z o. o.
brak grafiki
Siedziba:
Toszek, śląskie

Jesteśmy firmą produkującą i sprzedającą urządzenia do preparatyki prób w analizie fluorescencji rentgenowskiej. Znajdą Państwo u nas stapiarki, prasy, materiały użytkowe oraz wzorce wykorzystywane do analizy XRF. Główna siedziba firmy PD Instruments znajduje się w Toszku (Polska). To tutaj produkujemy nasze urządzenia, prowadzimy badania i rozwijamy nasze metody analizy
XRF. Również w Toszku znajduje się nasz magazyn oraz pomieszczenia szkoleniowe.Użytkownikom XRF dostarczamy akcesoria, takie jak kubki do analizy cieczy, folie, topniki, lepiszcza, aluminiowe kapsle
do prasowania oraz różnego rodzaju wzorce. Posiadamy własne laboratorium wyposażone w stapiarki,
prasy, piece oraz spektrometr WD XRF.



Oferujemy również serwis naszych urządzeń w Polsce i na świecie. Wszystkie części zamienne dostępne są „od ręki", a zespół naszych ekspertów udzieli Państwu wsparcia telefonicznie, e-mailowo
lub osobiście. 

Szukasz dostawcy?

To proste! Uzupełnij formularz i poznaj najlepsze oferty dostawców z branży laboratoryjnej.

Wyślij zapytanie

Kontakt

PD Instrments Sp. z o. o.

Adres: Tarnogórska 6, 44-180 Toszek

Nr telefonu: +48 602 179 882 Skopiuj

Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl

Oferta PD Instrments Sp. z o. o. wg kategorii

1.2.4.1. homogenizatory automatyczne
1.2.4.2. homogenizatory ręczne
1.2.4.3. homogenizatory mechaniczne
1.2.4.4. homogenizatory ultradźwiękowe
1.2.4.5. akcesoria do homogenizatorów
1.2.4.6. Pozostałe homogenizatory laboratoryjne
1.2.7.1. młynki laboratoryjne, młyny do mielenia prób
1.2.7.2. kruszarki laboratoryjne
1.2.7.3. ucieraki laboratoryjne
1.2.7.4. inne urządzenia do mielenia
1.2.9. miksery laboratoryjne
1.5.13.4. inne usługi oczyszczania wody
1.5.14. inne urządzenia oczyszczania wody
1.7.11. myjki ultradźwiękowe
1.7.12. inne urządzenia laboratoryjne
2.1.4.1. wykrojniki próbek
2.1.4.2. nacinarki Karbu
2.1.4.3. frezarki komputerowe do przygotowania próbek
2.1.4.4. inne urządzenia do przygotowania próbek
2.1.9. usługi z zakresu poboru prób i opróżniania
2.1.10. inne urządzenia do pobierania, przechowywania i analizy prób
3.17.1.1. spektrometry ASA
3.17.1.2. piece grafitowe do ASA
3.17.1.3. lampy z katodą wnękową
3.17.1.4. akcesoria do spektrometrów absorpcji atomowej
3.17.1.5. inne spektrometry absorpcji atomowej
3.17.2.1. spektrometry badawcze z UV/VIS i VIS
3.17.2.2. spektrometry uniwersalne z UV/VIS i VIS
3.17.2.5. spektrometry dyspersji energii EPS
3.17.2.9. akcesoria do spektrometrów
3.17.2.10. inne spektrometry UV/VIS i VIS
3.17.3.1. spektrometry badawcze z IR
3.17.3.2. spektrometry uniwersalne z IR
3.17.3.3. systemy analityczne FT-IR
3.17.3.4. techniki sprzężone GC/IR, TGA/IR, FT-Raman, inne
3.17.3.5. spektrometry bliskiej podczerwieni NIR i z transformacją Fouriera FT – NIR
3.17.3.6. spektrometry NIR
3.17.3.7. spektrometry NMR i z transformacją Fouriera FT – NMR
3.17.3.8. spektrometry Ramana i z transformacją Fouriera FT – Raman
3.17.3.9. akcesoria do spektrometrów IR
3.17.3.10. inne spektrometry IR
3.17.4. spektrometry fluorescencji atomowej
3.17.7. spektrometry fluorescencji rentgenowskiej EDXRF
3.17.8. spektrometry emisyjne
3.17.9.1. spektrometr mas ICP-MS
3.17.9.2. spektrometr mas GC-MS
3.17.9.3. spektrometr mas LC-MS
3.17.9.4. MALDI
3.17.9.5. tandemowa spektroskopia mas MS/MS
3.17.9.6. akcesoria do systemów spektrometrii mas
3.17.9.7. inne urządzenia do spektrometrii mas
3.17.10. Spektrofluorymetry
3.17.11. dyfraktometry rentgenowskie
3.17.12. biblioteki widm
3.17.13. oprogramowanie do spektrometrii
3.17.14. akcesoria do spektrometrii
3.17.15. inne urządzenia do spektrometrii
3.17.16. usługi z zakresu spektrometrii
3.20.1.8. wieloparametrowe analizatory elementarne
3.20.1.9. inne analizatory elementarne
3.20.3.1. analizatory metali ciężkich
3.20.5.4. inne analizatory węgla i popiołów
3.20.7. analizatory petrochemiczne
3.20.9. analizatory właściwości substancji sproszkowanych
3.20.16. inne analizatory
5.2.9. inne odczynniki do analiz nieorganicznych
5.5.5. topniki do analizy śladowej
5.5.7. inne odczynniki do analizy śladowej
5.6.1.3. inne odczynniki i wzorce do analizy instrumentalnej
5.7.5. inne wzorce analityczne, kalibracyjne

Pokaż więcej