Spektrometr XRF Genius-IF

Spektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr ten zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w zakresie od C(6) do Fm(100). Najnowszej generacji detektor SDD posiada doskonałą rozdzielczośc widmową i zoptymalizowany jest do wykrywania pierwiastków w szerokim zakresie, także kłopotliwych dotychczas w analizie XRF pierwiastków lekkich.

Genius IF posiada unikatowy układ optyczny łączący osiem wtórnych filtrów odbiciowych, oraz osiem filtrów w trybie wzbudzenia bezpośredniego. Zapewnia to optymale warunki wzbudzenia dla wszystkich pierwiastków wykrywanych metodą EDXRF. WAG (Wide Angle Geometry) to opatentowany przez Xenemetrix system wykorzystania filtrów odbiciowych zapewniający optymalne warunki analizy dla pierwiastków głównym oraz śladowych w próbie.
Wiązka rentgenowska wzbudza charakterystyczne linie K dla filtrów odbiciowych (czysty metal), które wykorzystywane są potem do wzbudzenia próbki wiązką "monochromatyczną". Zastosowanie filtrów umożliwia znaczące obniżenie limitów detekcji dla poszczególnych pierwiastków. Obniżone limity detekcji czynią Genius IF urządzeniem najbardziej wszechstronnym i przydatnym w szerokim zakresie aplikacji, również niedostępnych dla typowych spektrometrów EDXRF.

• Detektor: SDD
• Rozdzielczość detektora: ok. 125 eV
• Zakres pomiarowy: sub ppm - 100%
• Mierzone pierwiastki: od F (fluoru) do Fm (fermu) z możliwością rozszerzenia od C (węgla)
• Moc lampy: 50 kV, 50W
• Wymiary komory pomiarowej: 220 x 220 x 50 mm

Specyfikacja techniczna spektrometru: Genius-IF

Wiecej informacji o produktach dostępnych w naszej ofercie znajduje się na naszej stronie: Envisense