Spektrometr XRF EDX 3200S Plus X

Model EDX 3200S Plus X to w pełni profesjonalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej zaprojektowany do szybkiej detekcji metali ciężkich w produktach spożywczych. Spektrometr umożliwia wykrycie śladowych ilość pierwiastków takich jak ołów, kadm, rtęć, arsen, selen w artykułach zbożowych, tytoniu i innych uprawach z minimalnych limitem detekcji w czasie nie dłuższym niż 2 - 3 minuty dla jednej próbki.

Spektrometr EDX 3200S Plus X wyposażony jest w wygodny sampler karuzelowy na 24 pozycje, który znacznie usprawnia i przyspiesza przeprowadzane analizy. Wbudowany ekran dotykowy, eliminuje konieczność doposażenia analizatora w zewnętrzny komputer, co obniża koszty oraz oszczędza miejsce w laboratorium.

Zastosowania modelu XRF: Nauka i badania
Zakres pomiarowy: sub ppm - 99.99%
Detektor: SDD
Rozdzielczość detektora: 129 eV
Mierzone pierwiastki: Cd, Pb, Hg, As, Se i inne
Dokładność pomiaru: 0.05%
Atmosfera pomiaru: Powietrze
Czas analizay (s): 60 ~ 1800 s
Zasilanie: 230V AC
Formy próbek: ciała stałe, proszki, ciecze
Dodatkowe informacje: Spektrometr wyposażony w podajnik próbek na 24 pozycje oraz wbudowany ekran dotykowy

Wiecej informacji o produkcie dostępne na naszej stronie: Envisense