Reklama: Chcesz umieścić tutaj reklamę? Zapraszamy do kontaktu »
Powrót do listy produktów Ostatnia aktualizacja: 2022-11-30
Analizator AWK C
Analizator AWK C

Urządzenie do pomiaru uziarnienia różnych materiałów

PRZEZNACZENIE

  • Pomiar jednowymiarowy
  • Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0.3 do 31,5 mm.
  • Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych

METODA POMIARU

Przyrząd składa się z najnowszej klasy optycznego przyrządu pomiarowego, który mierzy przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na 256 klas wymiarowych.

SPOSÓB POMIARU

Analizator AWK C jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączony jest tor pomiarowy wielkości cząstek.

Elektroniczny blok pomiarowy [1] jest podłączony do komputera [2].

Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera [3].

Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5].

Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka i szerokość rynny dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.

Pomiędzy rynną dozownika, a czujnikiem pomiarowym znajduje się kominek [9], którego zadaniem jest uporządkowanie lotu ziaren o różnych kształtach.

Przez kominek [9] zasysane jest powietrze przez sprężarkę [8], która załączana jest za pomocą przełącznika sterującego [10].

Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] do pojemnika [7] znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych.

Schemat analizatora AWK C

CHARAKTERYSTYKA

-
zakres pomiarowy
0,3 - 31,5 mm

-
ilość klas pomiarowych
256

-
źródło światła
dioda Infrared lub dioda laserowa

-
zasilanie
230 V AC, 50 Hz

-
temperatura użytkowania
278 do 313 K

-
powierzchnia pomiarowa
2 500 mm2

KOMPLETACJA

-
elektroniczny blok pomiarowy AWK

-
sonda z kominkiem

-
szafka AWK ze wspomaganiem aerodynamicznym

-
dozownik z wymiennym lejkiem i rynną

-
zestaw kabli

-
komputer typu notebook

-
zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

DOKUMENTY

Więcej informacji >

Skontaktuj się z dystrybutorem

Dystrybutor

KAMIKA Instruments Sp. z o.o.

Adres: Strawczyńska 16, 01-473 Warszawa

Nr telefonu: +48 22-666-85-68 Skopiuj

Nr telefonu: +48 22-666-93-32 Skopiuj

Faks: +48 22-666-85-68; +48 22-666-93-32 Pokaż numer Skopiuj

E-mail: info@kamika.pl Skopiuj
WWW: www.kamika.pl

Przy kontakcie powołaj się na portal laboratoria.xtech.pl

Wyślij wiadomość

Dodaj plik...