Spektrometr XRF

Spektrometr promieniowania X służy do identyfikacji pierwiastków danej substancji oraz określenia ich stężenia. Pierwiastki są wykrywane na podstawie charakterystycznej długości fali emisji wtórnego promieniowania RTG. Analiza ilościowa (ocena stężenia danego pierwiastka) jest możliwa poprzez pomiar intensywności energii (odpowiadającej danemu pierwiastkowi). Stężenie badanego pierwiastka określane jest za pomocą pomiaru intensywności linii jego charakterystyki.
Obecnie metoda XRF jest techniką analityczną wykorzystywaną w badaniach niedestrukcyjnych. Metoda XRF ma szczególne znaczenie w przypadku analizy warstwy przypowierzchniowej oraz jest szeroko wykorzystywana w analizie składu, w szczególności w badaniach wyrobów metalowych, ceramicznych, szklanych oraz materiałów
budowlanych.

Miernik XRF typ PI-MKX01 to klasyczny spektrometr laboratoryjny, pracujący na zasadzie spektrometrii rentgenowskiej EDXRF.
Aparat wyposażony jest w detektor SDD, posiadający rozdzielczość od 125 do 140 eV oraz lampę pracującą w zakresie do 50 keV.
Wygodna, wysuwana automatycznie, komora próbek z rotacją naczynka pozwala na precyzyjne
pomiary.
Aparat wyposażony jest w polskojęzyczne oprogramowanie, pozwalające w prosty sposób wykonywać analizy ilościowe i jakościowe.
Spektrometr PI-MKX01 pozwala oznaczać pierwiastki chemiczne położone w układzie okresowym, od sodu (Na) w zakresie od 0,1ppm do 100%:
stężenie pierwiastków w próbkach wodnych, ściekach
zawartość pierwiastków w próbkach stałych, proszkach
grubości warstw metali
zawartość metali w plastikach
zawartość pierwiastków w glebach
stężenie pierwiastków w olejach, smarach, płynach chłodniczych
W ofercie spektrometrów rentgenowskich posiadamy aparat wyposażony w wielopozycyjny automatyczny podajnik próbek oraz rozwiązania do pomiarów on-line.